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열물성 분석 제품

표면 계면 물성평가

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Twin-path형 표면장력 측정장치 RSM-SFA

■ Twin-path형 표면장력 측정장치 RSM-SFA 표면간의 특성, 상호 작용을 직접 측정  불투명 시료도 측정할 수있는 유일한 표면력 장비 이 장치는 기존의 공진전단응력측정장치 "RSM-1"에서 공진전단 측정부를 제외한 표면력 측정 기능을 위한 모델입니다. 두 표면 사이에 작용하는 상호 작용의 거리 의존성과 접착력 등의 측정이 가능합니다. 또한 Twin-path법 (반사 레이저 간섭계)에 의해, 불투명 물질의 측정도 가능하고, 옵션의 집광 가열 시스템은 시료 온도를 실온 ~ 100 ℃까지 바꾸어 측정할 수 있습니다. 공진전단 측정부는 나중에 증설도 가능합니다. ※ 본 장치는 토호쿠대학 · 구리하라 연구소와 공동으로 개발했습니다. ■ 용도 표면력 측정 :  전기 이중층 힘, 표면 전위, 접착력, 흡착 특성, 분자간 상호 작용 등의 평가  【사용 예】  · 콜로이드 입자의 분산 · 응집에 관한 상호 작용의 연구  · 생체 분자간의 상호 작용 측정  · 고분자의 흡착 상태와 분자의 확산 · 경도의 측정 ... etc ■ 특징 Twin-path법 (반사형 레이저 간섭계)는 불투명 시료의 측정이 가능  FECO (등색차수 간섭무늬) 법에 의한 측정도 지원 Twin-path법의 제어 · 측정 소프트웨어를 표준 탑재하여, 간단한 조작으로 거리 변화를 측정가능 Twin-path법의 거리 측정 데이터를 분석하여, 힘과 거리의 곡선으로 그리는 소프트웨어를 표준 제공  (측정 데이터는 스프레드시트 등으로 열어볼 수 있습니다) 집광 가열 시스템 (옵션)에 의해 시료부를 실온 ~ 100 ℃까지 온도를 바꾸어 측정 가능   ■ 사양 형식 RSM-SFA 온도 범위 실온, 실온~100 ℃ * 집광가열시스템 (옵션) 추가시 필요한 시료량 20μL 이상 표면간 거리 제어 분해능 0.01nm 이하 / 펄스 표면간 거리 측정 분해능 Twin-path법 0.2nm 이하 * 측정 · 설치 환경에 의존 FECO 법 0.1nm 이하 소요 전원 AC100V 15A * PC 제외