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열물성 분석 제품

열분석 평가장치

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레이저 열팽창계 LIX시리즈

최소분해능 2nm의 초정밀 열팽창 측정.
낮은 열팽창 재료 및 각종 전자 부품의 정밀 팽창 측정이 가능합니다.
또한, 필름 두께 방향의 열팽창 측정도 가능합니다.
■ Thermal Expansion Measurment System by Laser Interferometer LIX series   최소분해능 2nm의 초정밀 열팽창 측정. 낮은 열팽창 재료 및 각종 전자 부품의 정밀 팽창 측정이 가능합니다.  또한, 필름 두께 방향의 열팽창 측정도 가능합니다.    Ultra-precise thermal expansion measurements with a minimum resolution of 2 nm. Precise expansion measurements of low-thermal expansion materials and electronic component materials can be performed. Also capable of performing expansion measurements in the film thickness direction.   ■ 용도 ​​유기 필름의 두께 방향 열팽창 측정 저 팽창 유리의 고정밀 팽창 측정 봉지재의 팽창 측정 Expansion measurements in the thickness direction of organic films High-precision expansion measurements of low-expansion glass Expansion measurements of seal materials    ■ 특징 두께 50~500μm의 고분자 필름 재료의 두께 방향 측정이 가능 Capable of thickness direction measurements of polymer film materials 50 to 500 μm thick※특허 및 표준Complies with JISR 3251-1995 Parallel moving sample holder (patented)   ■ 사양  모델 LIX-2M  LIX-2L  측정 물성 열팽창  온도 범위 실온 ~ 700 ℃ -150 ℃ ~ 200 ℃  시료 치수 φ3 ~ 6㎜ × 길이 10㎜ ~ 15㎜, 길이 방향의 양단은 구면 마무리  측정 분위기  진공 저압 고순도 He 가스